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High Performance Interference Patterning Device Using Higher Harmonic Wave Source

机译:高性能干扰图案化装置使用高谐波源

摘要

The present invention relates to a high-performance interference patterning apparatus using a high-order harmonic light source, comprising: a light source means and a grating pair arranged to diffract the light irradiated from the light source means to form an interference image; and an interference image obtained by interfering light diffracted from the grating pair is incident on a resist-coated sample surface to generate an interference pattern.
机译:本发明涉及一种使用高阶谐波光源的高性能干扰图案化装置,包括:光源装置和光栅对,布置成衍射从光源装置照射的光以形成干涉图像;通过干扰从光栅对衍射的光而获得的干涉图像入射在抗蚀剂涂覆的样品表面上以产生干涉图案。

著录项

  • 公开/公告号KR102268459B1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-06-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR1020190110659

  • 发明设计人 이동근;

    申请日2019-09-06

  • 分类号G03F7/20;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-24 19:50:11

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