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Method and apparatus for phase transformation by converting deformation grating into rectangular lattice or square lattice using projection transformation

机译:通过使用投影变换将变形光栅转换成矩形格栅或方形格子来相换的方法和装置

摘要

A measurement method for measuring a phase corresponding to a position of an object plane by a photographed image obtained by photographing a lattice image of an object plane by a camera. A first step of projecting a grid image to convert one pitch of the grid of the grid image to be an integer pixel; The phase corresponding to the position of the surface is measured.
机译:一种测量方法,用于通过通过照相机拍摄物体平面的晶格图像来测量对应于物体平面的位置的相位对应的相位。突出网格图像的第一步将网格图像网格的一个间距转换为整数像素;测量与表面位置对应的相位。

著录项

  • 公开/公告号JP6884393B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-06-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 4Dセンサー株式会社;

    申请/专利号JP20170529854

  • 发明设计人 森本 吉春;

    申请日2017-05-31

  • 分类号G01B11;G01B11/25;G06T1;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-24 19:06:33

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