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赵冬冬; 郑玉祥; 张金波; 杨尚东; 杨辽; 刘谆骅; 陈良尧;
上海市激光学会;
半导体材料; 五氧化二铌薄膜; 退火温度; 晶体结构; 厚度控制; 光学性质;
机译:厚度变化的电子束蒸发退火Nb2O5薄膜的光学常数
机译:厚度对溅射沉积Nb2O5薄膜结构,形态和光学性能的影响
机译:溶胶-凝胶衍生的高折射率二氧化钛-羟丙基纤维素杂化薄膜:影响折射率和包围临界厚度的溶液组分
机译:银厚度和退火对Nb2O5 / Ag / Nb2O5多层的光学和电性能的影响柔性基板上的透明复合电极
机译:通过热退火和溶剂退火处理嵌段共聚物在块状和薄膜中的自组装。
机译:厚度和热退火对原子层沉积氧化铝薄膜折射率的影响
机译:室温薄膜Ba(x)sr(1-x)TiO3 Ku波段耦合微带相移器:膜厚度,掺杂,退火和基板选择的影响
机译:用于测量多层薄膜的厚度和折射率使用角度解析光谱干扰图像根据偏振来测量多层薄膜的厚度和折射率
机译:确定薄膜厚度,折射率和消光系数,以便实时确定薄膜应变和测量缺陷尺寸
机译:薄膜厚度,折射率和消光系数的确定,可实时创建薄膜曲线并确定缺陷尺寸
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