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基于SRAM的XILINX FPGA单粒子翻转的测试和试验方法研究

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基于SRAM的XILINX FPGA的资源丰富、结构复杂，在对其进行的单粒子试验中，只有针对其特点，设计相应的单粒子试验的测试程序才能系统、准确地获取该类芯片的单粒子特性，为抗辐加固设计提供依据，为该类芯片在航天领域的使用打下基础.

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来源
《第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会》|2009年|p.374-379|共6页
会议地点沈阳
作者
田文波; 章斌;
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作者单位

中国电子学会;

中国核学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类外存贮器（辅助存贮器）总论;
关键词
静态随机存取存储器; 单粒子翻转; 抗辐加固设计;

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