基于常压质谱直接解吸附离子化的分子自组装检测新方法

摘要

在项目执行期间,本课题组利用自主搭建的离子源建立了多种常压质谱检测方法,并将其用于不同自组装体系的表征.首先应用低温等离子体离子源质谱(LTP-MS)检测了以铜为基底的缓蚀膜和层层自组装多层膜(Au/Ag)n、同时也应用解吸附电喷雾离子源质谱(DESI-MS)检测罗丹明类自组装膜.结果表明这种常压质谱检测方法可以实现对自组装膜的快速原位分析,不仅可对层层自组装过程进行监控,而且也能对自组装膜的厚度进行相对测定.另外应用冷喷雾离子源质谱(CESI-MS)对N,N'-二水杨醛腙分子聚集诱导荧光体系进行了检测,与传统的ESI-MS检测的相比CESI-MS能够检测出更多的聚集体离子峰.

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