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基于常压质谱直接解吸附离子化的分子自组装检测新方法

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在项目执行期间设计并搭建了四种适用于不同自组装体系检测的常压质谱离子源:包括低温等离子体离子源(Low Temperature Plasma LTP)、解吸附电喷雾离子源(Desorption Electrospray Inoization DESI)、冷喷雾离子源(Cold Electrospray Ionization,CESI)和文丘里(Venturi Easy Ambient Sonic-Spray Ionization,V-EASI)离子源,并和质谱联用,成功实现了对多种自组装膜、聚集诱导荧光体系以及核酸碱基自组装体系的表征.利用LTP-MS对以铜为基底的缓蚀膜和层层自组装多层膜(Au/Ag)n进行检测，可以得到自组装分子在基底上的存在形式和分布信息。LTP-MS谱图中的特征离子峰可以解释膜分子的结构，实现对自组装膜的快速原位分析。利用自行搭建的DESI-MS分析平台，对罗丹明类自组装膜进行检测，不仅可对层层自组装过程进行监控，而且能对自组装膜的厚度进行相对测定。DESI-MS谱图中以分子离子峰和准分子离子峰为主，不产生或产生较少的碎片离子，这对于混合物中样品的鉴定非常重要。使用CESI-MS可以对热不稳定的分子体系进行检测，而不破坏该体系的分子信息。

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来源
《国家自然科学基金委员会“可控自组装体系及其功能化”重大研究计划年度交流暨研讨会》|2014年|66-67|共2页
会议地点南京
作者
马琳; 欧阳津;
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作者单位

国家自然科学基金委员会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类结构化学;
关键词
分子自组装; 结构表征; 常压质谱离子源;

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