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张滨海; 方培源; 王家楫;
中国物理学会;
北京理化分析测试技术学会;
北京电镜学会;
IC失效分析; 发光显微镜; OBIRCH;
机译:激光太赫达 - 显微镜在LSI失效分析中的应用
机译:激光太赫兹辐射显微镜的研制及其在LSI失效分析中的应用
机译:截面透射电子显微镜在薄膜晶体管失效分析中的应用
机译:红外发射显微镜对倒装芯片(C4)失效分析的应用
机译:静电力显微镜和原子力显微镜在集成电路内部信号测量中的应用。
机译:通过红外显微镜通过集成电路的空间位置
机译:近红外发射材料:通过收获三重态激子的近红外发射材料:分子设计,性能和在有机发光二极管中的应用(先进的光学材料18/2018)
机译:扫描电子显微镜在陶瓷和玻璃失效分析中的应用
机译:在法医应用中用于比较显微镜或宏观显微镜中的物体照明的照明装置,其具有可定位在照明光束路径中的透明或半透明的发光层
机译:高速多波长照明源,包含该光源的设备及其在照射发光样品和定量发光比显微镜的方法中的应用
机译:集成电路的失效分析方法及失效的集成电路组件
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