thermal imaging; microscopy; secure characterization; pattern location; autofocus; polynomial decomposition; graph matching;
机译:大探针-样品分离下磁力显微镜在集成电路中载流故障点的位置
机译:超出衍射极限的集成电路故障分析:具有集成电阻,电容和UV共聚焦成像的接触模式近场扫描光学显微镜
机译:基于量子阱红外光电探测器的红外焦平面阵列读出集成电路的技术局限性
机译:通过磁力显微镜通过集成电路承载故障的位置
机译:静电力显微镜和原子力显微镜在集成电路内部信号测量中的应用。
机译:神经回路:通过空间受限的光遗传学激活并集成高密度光电电极对神经活动进行近端和远端调节
机译:通过监测基质热相滞后的海市蜃楼效应来确定集成电路中的热点位置