首页> 中文会议>第一届中国微电子计量与测试技术研讨会 >基于漏电流故障模型的集成电路测试方法研究

基于漏电流故障模型的集成电路测试方法研究

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

在现代集成电路测试中，漏电流是一项很重要的指标，基于漏电流故障的模型可以快速发现CMOS制造工艺的缺陷。木文首先介绍了漏电流故障模型的特点，阐述了基于漏电流故障模型对集成电路进行漏电流测试的测试原理、测试集生成及测试方法。在此基础上，系统研究了电路静态漏电流、输入漏电流、输出高阻漏电流的测试方法。

著录项

来源
《第一届中国微电子计量与测试技术研讨会》|2008年|17-21|共5页
会议地点武汉
作者
王香芬; 高成; 付桂翠;
展开▼
作者单位

中国船舶重工集团公司;

展开▼
会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
漏电流故障模型; 漏电流测试; 集成电路; CMOS电路;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 大规模集成电路测试程序质量控制方法研究 [J] . 孙宇 ,唐锐 ,王小强 . 电子产品可靠性与环境试验 . 2015,第004期
2. 一种集成电路测试系统在线计量方法研究磁 [J] . 周厚平 . 计算机与数字工程 . 2015,第001期
3. 93k集成电路测试系统校准原理及实现方法研究 [J] . 贺志容 ,石坚 ,韩红星 . 宇航计测技术 . 2009,第003期
4. 电能计量专用集成电路测试方法研究 [J] . 孙龙宝 ,林霞 . 电子与封装 . 2006,第001期
5. 汉字识别专用集成电路测试方法研究 [J] . 孙义和 ,贺祥庆 . 微电子测试 . 1994,第004期
6. 一种集成电路测试系统在线计量方法研究 [C] . ZHOU Hou-ping ,周厚平 . 2014国防计量与测试学术交流会 . 2014
7. 2.5D集成电路测试结构设计方法研究 [A] . 孙宁 . 2019

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号