首页> 中文会议>2008中国平板显示学术会议 >正性向列相液晶介电各向异性测试方法研究

正性向列相液晶介电各向异性测试方法研究

摘要

文章针对目前正性向列相液晶材料的△ε测试方法进行改良.利用正性向列相液晶分子在电场下发生Freedericksz转变的规律,在各种液晶盒中进行实验,发现盒厚5.0微米的无表面取向层盒测得的数据最优.因为无取向层盒表面的弱锚泊作用,只能在较小的盒厚下维持液晶分子指向矢与表面平行,而在较大电场作用时又没有强锚泊作用束缚表面分子,能够使全部分子发生转动.将所得数据利用C-V曲线法进行拟和即可求出△ε,此法简便有效.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号