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一种新的产生可控长度测试码的BlST结构

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文中提出一种能屏蔽冗余测试码序列的新型BIST结构。通过重用并行数据端口控制可控长度计数器的计数值，进一步控制特征分析器的测试响应数据输入，从而达到屏蔽冗余序列，降低功耗的目的。仿真结果表明可以任意跳过冗余的测试序列.这种BIST结构已经应用于数字内插滤波器的测试，集成该数字内插滤波器的14位130MSPSD/A转换器芯片已经参加MPW流片，应用目标为移动通信领域。

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来源
《2007中国计算机大会》|2007年|678-684|共7页
会议地点苏州
作者
尹勇生; 高明伦; 邓红辉; 肖福明;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TP311.52;
关键词
BIST结构; 可控长度计数器; 测试图形; 冗余测试; 移动通信;

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