首页> 中文会议>2014年核磁共振技术及应用研讨会 >亚微米量级空间分辨力的光反射热成像技术的原理及应用

亚微米量级空间分辨力的光反射热成像技术的原理及应用

摘要

本文介绍了基于光反射原理的热成像技术的需求背景、技术原理、性能参数和典型应用,该技术可以实现200nm-300nm之间的空间分辨力,可以有效地分析微小结构的热分布情况,且能实现低频、高频的瞬态热成像.其突出的空间分辨力适用于微电子器件及MEMS器件的温度检测;同时由于可见光反射率随材料特性的变化,该技术在半导体材料测试方面还存在一些不足.目前,该技术在国外已经被广泛地用于光电子器件、微电子器件、MEMS器件的热分布测试与分析的工作.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号