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徐俊平; 杨银堂; 贾护军;
中国电子学会;
碳化硅; PE技术; RIE技术; ECR技术; ICP技术; 刻蚀速率; 刻蚀方法;
机译:四甲基氢氧化铵刻蚀剂在深湿法刻蚀中提高硅刻蚀速率的研究
机译:F +刻蚀SiC的角效应:MD研究%F +刻蚀SiC的角效应:MD研究
机译:SiC陶瓷激光直接刻蚀和水辅助激光联合刻蚀的相分析
机译:一种用于高密度等离子体刻蚀机的新化学方法,当几何尺寸低于0.5微米时,可改善TiN ARC层上的刻蚀速率负载
机译:在使用Langmuir探针和光发射光谱法的深反应离子刻蚀系统中,等离子体表征和刻蚀速率以及通孔侧壁角度相关。
机译:6H-SiC化学刻蚀的新方法
机译:通过ICP-RIE氧化和湿法刻蚀可控制刻蚀速率的AlGaN / GaN的精密凹槽
机译:采用时间复用蚀刻 - 钝化工艺的高纵横比siC微结构深反应离子刻蚀(DRIE)
机译:在碳化硅(SiC)基质的光电化学刻蚀中使用的刻蚀剂,刻蚀装置和刻蚀方法
机译:刻蚀过程的速率和刻蚀后的金属层表面性能得到改善的刻蚀金属层的解决方案,以及使用相同方法刻蚀金属层的方法
机译:单晶SiC晶片的湿法刻蚀方法,湿法刻蚀溶液和湿法刻蚀装置
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