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铬铁矿砂中主要成分的X射线荧光光谱法测定研究

摘要

使用日本理学3080E<,3>型X射线荧光光谱仪,采用粉末直接压片和理论a系数法校正基体效应的方法,建立了铬铁矿砂样品中Cr<,2>O<,3>、TFe、SiO<,2>、MgO、Al<,2>O<,3>、CaO组分的的快速测定方法.研究了制样条件,克服了粉末样品的粒度效应,用内控标样制做标准曲线,分析结果的精密度和准确度不低于化学法.

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