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ADC动态参数测试的CAT技术研究

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高速、高分辨ＡＤＣ在国民经济中的需求日显迫切，其性能参数可分为静态参数、动态参数、常规参数等几大类，其动态参数的测试尤为重要，它既在研制过程中提供重要的反馈信息，也是生产过程中提供高质量电路的保证。为超前于国内ＡＤＣ的研制和生产，作者收集了国际、国内ＡＤＣ产品的详细资料，对１２个重要动态参数的测试原理和方法进行了深入的研究，并在该所购买的ＬＴＸＳｙｎｃｈｒｏⅡ测试系统上编程实现；构成了基于该系统硬件的ＡＤＣ动态参数测试平台、独立于该系统的ＡＤＣ动态参数测试原理和方法的框架。基于该作者正在开发积木式智能测试系统，实现更高速度的ＡＤＣ动态参数测试。

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来源
《第十一届全国半导体集成电路、硅材料学术会议》|1999年|437-440|共4页
会议地点大连
作者
严顺炳; 余晋川; 陈光禹; 李迅波; 廖述剑;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TP335.1;
关键词
ADC; 动态参数; 测试; CAT; 平台; 框架;

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