首页> 中文会议>第十三届全国红外科学技术交流会 >红外焦平面硅CMOS信号处理电路测试技术

红外焦平面硅CMOS信号处理电路测试技术

摘要

该文详细介绍利用DIC-8032大型测试系统对红外焦平面信号电路的测试方法,测试码点的生成,电路的故障诊断和版图验证及测试程度的开发性。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号