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用FTIR测量碲镉汞晶片组份X值的误差分析

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该文九个碲镉汞标准组份样品（组份分别从0.195～0.230）进行不同条件的测量。根据统计分布理论分别计算出了它们的平均偏差和均方根偏差。并计算出用FTIR测量碲镉汞晶片组份X值的总误差δ∑=11.05cm<'-1>。

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来源
《第十三届全国红外科学技术交流会》|1998年|P.53-56|共4页
会议地点北京
作者
P.维克多; 吴人齐;
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作者单位

中国科学院上海技术物理研究所;

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会议组织
正文语种
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关键词
误差分析; 碲镉汞; FTIR;

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