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80C86单粒子效应测试及实验研究

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单粒子效应是影响卫星正常工作主要因数之一，它是由于空间带电离子入到超大规模集成电路(如SRAM、CPU、FPGA等)中所引起的。由于CPU单粒子效应测试系统复杂，帮国内外在这一方面的报道不多。该文较详细介绍了研究人员所研制80C86单粒子效应测试原理、实验方案其数据处理。

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来源
《第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会》|1999年|447-450|共4页
会议地点扬州
作者
陈晓华; 贺朝会;
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作者单位

中国电子学会;

中国核学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类大规模集成电路、超大规模集成电路;粒子物理学;
关键词
CPU; 单粒子效应; 闭锁;

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