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蓝宝石基片上CeO2缓冲层的厚度对Tl-2212超导薄膜的性能影响

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本文报道了在蓝宝石上所生长的不同厚度的CeO2缓冲层对T1-2212薄膜超导特性的影响，并在此基础上研究了双面T1-2212薄膜的均匀性。CeO2缓冲层的厚度对T1-2212薄膜超导特性有较大影响。要提高T1-2212薄膜的超导参数，必须考虑界面扩散及缓冲层的表面粗糙度对Jc的影响，从而选择适当的CeO2缓冲层的厚度。实验表明，采用40nm的CeO2缓冲层，可以得到电学性能优良的T1-2212超导薄膜，并在此缓冲层上可以制备出结构、形貌和超导电性等均匀的双面Tl-2212薄膜。

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来源
《第五届广西青年学术年会》|2010年|7-10|共4页
会议地点南宁
作者
谢清连; 黄自谦; 方凤才; 潘吟松; 黄国华;
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作者单位

广西壮族自治区科协;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TM26:TM201.44;
关键词
超导薄膜; 电学性能; 蓝宝石基片; 氧化铈缓冲层; 材料厚度;

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