首页> 中文会议>2012年云南电力技术论坛 >35kV干式空心并联电抗器剩余寿命评估方法研究

35kV干式空心并联电抗器剩余寿命评估方法研究

摘要

本文提出利用并联电抗器电气绝缘材料使用寿命随温度变化的关系,先给出电抗器绝缘材料在热点温度下的使用寿命,然后根据电抗器风险评估理论对电抗器剩余寿命进行评估.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号