首页> 中文会议>2012国际冶金及材料分析测试学术报告会（CCATM2012） >无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的滑石粉

无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的滑石粉

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

本文采用无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的微量滑石粉,将安全套表面润滑剂均匀涂于无衍射单晶硅基板表面,在X射线衍射仪上测定.测定条件为:采用功率为2 kw的封闭式Cu靶X光管,管电压为40 kV,电流40 mA,扫描范围为2θ=5～60°,扫描方式为步进扫描,扫描间隔为0.02°,停留时间为1 s.在上述条件下,测定了三个生产厂家的样品,实现了对安全套表面润滑剂中的微量滑石粉的快速鉴别.

著录项

来源
《2012国际冶金及材料分析测试学术报告会（CCATM2012）》|2012年|177-181|共5页
会议地点北京
作者
ZHAO Jing-hong; 赵景红; GUO Ya-lin; 郭雅琳; SONG Xiao-ping; 宋小平; ZHANG Ning; 张宁;
展开▼
作者单位

中国金属学会;

中国机械工程学会;

展开▼
会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TQ330.72;
关键词
安全套; 质量检测; 滑石粉; 无衍射单晶硅基板-X射线衍射法;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. X射线衍射法测定滑石粉中石棉成分 [J] . 靳贵英 ,林生文 ,王淼 . 中国无机分析化学 . 2014,第002期
2. X射线衍射法测定药用滑石粉中石棉的研究 [J] . 农以宁 ,曾令民 . 中国中药杂志 . 2002,第7期
3. X射线衍射法在测量铝合金厚板表面残余应力中的应用 [J] . 郭俊康 ,吴运新 ,胡永会 . 轻合金加工技术 . 2010,第004期
4. X射线衍射法钾混盐无标样定量相分析 [J] . 烟卫 ,刘昱 ,李艳苹 . 理化检验-化学分册 . 2014,第004期
5. X射线衍射法测定圆棒表面残余应力的影响因素 [J] . 王晓宇 ,任丽萍 ,徐星泓 . 理化检验-物理分册 . 2017,第007期
6. X射线衍射法测试大型冷轧辊中的残余奥氏体含量 [C] . 贺强 . 全国理化测试学术研讨会暨《理化检验》创刊50周年大会 . 2012
7. 无衍射光束在特殊光学元件中的衍射特性 [A] . 谢晓霞 . 2016

无衍射单晶硅基板-X射线衍射法快速鉴别安全套表面润滑剂中的滑石粉

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅