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基于交叉熵的缓变故障检测技术

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针对电子设备的测试和故障识别提出了一种基于性能退化数据的缓变故障检测方法。首先,结合电子设备退化特点和试验系统的退化数据,选取合适的线性模型近似设备参数退化轨道,得出退化数据与初始数据交叉熵随时间变化的分布曲线；然后,通过与超限概率建立关系,确定故障判定的阈值；最后,利用该试验系统的退化轨迹产生时变随机样本进行仿真验证。通过仿真分析:交叉熵方法可以比较准确的检测设备的缓变故障及老化,并且相对于检测超限概率提高了检测精度,减少了运算量；同时,交叉熵直接采用样本点进行故障检测,避免了需要拟合分布曲线计算超限概率的误差；最后,分析了样本数对交叉熵的影响,说明了为了兼顾稳定性和精确度,并不是样本数越多越好。

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来源
《第十五届全国信号处理学术年会》|2011年|1640-1644|共5页
会议地点北京
作者
苏志刚; 赵子轩; 吴仁彪;
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作者单位

中国电子学会;

中国仪器仪表学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TP206.3;
关键词
电子设备; 缓变故障检测; 交叉熵; 超限概率;

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