【24h】

ESD DEFECT LOCALIZATION AND ANALYSIS USING PULSED OBIC TECHNIQUES

机译:ESD缺陷定位和使用脉冲OBIC技术进行分析

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摘要

A method to detect and analyze ESD (Electrostatic Discharge) defects in integrated circuits is presented. This method is based on OBIC (Optical Beam Induced Current). Modeling of the interaction between the laser beam and the circuit has been performed in order to demonstrate the suitability of the technique to analyze the defect.
机译:提出了一种检测和分析集成电路中ESD(静电放电)缺陷的方法。该方法基于OBIC(光束感应电流)。为了证明该技术分析缺陷的适用性,已经对激光束和电路之间的相互作用进行了建模。

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