Sección de Electrónica del Estado Sólido, Departamento de IngenierÃÂa Eléctrica, CINVESTAV-IPN, Av. IPN 2508, Ado. Postal 14-740, México;
机译:具有不同迁移率区域的三栅极MOSFET的3D模拟
机译:三栅极MOSFET中的短通道,浮置体和3D耦合效应
机译:用于三栅极连接MOSFET的连续和对称跨电容紧凑型模型
机译:三门MOSFET的3D仿真
机译:适用于高速低功耗逻辑应用的非平面3D iii-v MOSFET
机译:Z栅极布局MOSFET的3D数值模拟
机译:热载体老化对三栅交叉MOSFET性能的影响
机译:50 nm外延通道mOsFET中的随机掺杂阈值电压波动:3D'原子'模拟研究