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首页> 外文会议>AMD-vol.257; American Society of Mechanical Engineers(ASME) International Mechanical Engineering Congress and Exposition; 20061105-10; Chicago,IL(US) >MODAL INTERACTIONS IN CONTACT-MODE ATOMIC FORCE MICROSCOPES
【24h】

MODAL INTERACTIONS IN CONTACT-MODE ATOMIC FORCE MICROSCOPES

机译：接触模式原子力显微镜中的模态相互作用

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Atomic force microscopes (AFM) are used to estimate material and surface properties. When using contact-mode AFM, the specimen or the probe is excited near a natural frequency of the system to estimate the linear coefficient of the contact stiffness. Because higher modes offer lower thermal noise, higher quality factors, and higher sensitivity to stiff samples, their use in this procedure is more desirable. However, these modes are candidates for internal resonances, where the energy being fed into one mode may be channeled to another mode. If such interactions are ignored, the results obtained from the probe may be distorted. The method of multiple scales is used to derive an approximate analytical expression to the probe response in the presence of two-to-one autoparametric resonance between the second and third modes. We examine characteristics of this solution in relation to a single-mode response and consider its implications in AFM measurements.
机译：原子力显微镜（AFM）用于估计材料和表面特性。当使用接触模式原子力显微镜时，样品或探针在系统的固有频率附近被激发，以估计接触刚度的线性系数。由于较高的模式可提供较低的热噪声，较高的品质因数以及对刚性样品的较高灵敏度，因此更需要在此过程中使用它们。然而，这些模式是内部共振的候选者，其中馈入一种模式的能量可以被引导到另一种模式。如果忽略这种相互作用，则从探头获得的结果可能会失真。在第二和第三模式之间存在一对一的自参量共振时，使用多尺度方法来得出探针响应的近似分析表达式。我们检查了与单模响应有关的该解决方案的特性，并考虑了其在AFM测量中的含义。

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