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Ramification algorithm for graphene sample-defect localization

机译:石墨烯样品缺陷定位的分枝算法

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摘要

Recent development of a new 2D material graphene necessitates sample characterization (in particular localization and distribution of defects). The presence of defects is unavoidable, however, it is possible to determine and predict defect distribution in graphene samples prior to the actual device making. A ramification algorithm is used for the above purpose.
机译:新的2D材料石墨烯的最新开发需要进行样品表征(特别是缺陷的定位和分布)。缺陷的存在是不可避免的,但是,可以在实际制造器件之前确定和预测石墨烯样品中的缺陷分布。分枝算法用于上述目的。

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