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机译:前言

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摘要

This volume contains the manuscripts submitted for the Proceedings of the 16~(th) International Conference on "Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology - GADEST 2015" held from September 20~(th) to 25~(th) in Bad Staffelstein, Germany.
机译:此卷包含为9月20日至25日在德国Bad Staffelstein举行的第16届“半导体技术的发信号和缺陷工程-GADEST 2015”国际会议论文集提交的论文。 。

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