Naval Research Laboratory, Washington, DC 20375, USA;
excitons and related phenomena; III-V semiconductors; III-V and II-VI semiconductors; III-V semiconductors; III-V semiconductors;
机译:光学检测的浅施主-浅受主和掺杂Mg的GaN的深(2.8-3.2 eV)重组
机译:随着外延横向过度高血压技术的GaN Epilayer浅供体型杂质研究
机译:锌 - 闪光型Inxga1的浅供体杂质状态的外部电场效应xN / GaN对称耦合量子点
机译:在HVPE GaN中浅中性供体的激子弹的时间分辨光谱
机译:远程浅施主的量子态的磁光激发。
机译:关于碳掺杂GaN中供体/受体补偿比的建模在横向GaN功率Hemts中的单一再现击穿电压和电流塌陷
机译:GaN / HfO2量子中的介电失配和浅施主杂质 井