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Dynamic Metrology and Data Processing for Precision Freeform Optics Fabrication and Testing

机译：动态计量和数据处理，用于精密自由曲面光学元件的制造和测试

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Dynamic metrology holds the key to overcoming several challenging limitations of conventional optical metrology, especially with regards to precision freeform optical elements. We present two dynamic metrology systems: 1) adaptive interferometric null testing; and 2) instantaneous phase shifting deflectometry, along with an overview of a gradient data processing and surface reconstruction technique. The adaptive null testing method, utilizing a deformable mirror, adopts a stochastic parallel gradient descent search algorithm in order to dynamically create a null testing condition for unknown freeform optics. The single-shot deflectometry system implemented on an iPhone uses a multiplexed display pattern to enable dynamic measurements of time-varying optical components or optics in vibration. Experimental data, measurement accuracy / precision, and data processing algorithms are discussed.
机译：动态计量学是克服常规光学计量学的几个具有挑战性的局限性的关键，特别是在精密自由形式的光学元件方面。我们提出了两个动态计量系统：1）自适应干涉零测试; 2）瞬时相移偏转法，以及梯度数据处理和表面重建技术的概述。自适应零位测试方法利用可变形反射镜，采用随机平行梯度下降搜索算法，以便为未知的自由形式光学元件动态创建零位测试条件。在iPhone上实现的单次偏转测量系统使用多路复用的显示模式，可以动态测量随时间变化的光学组件或光学元件的振动。讨论了实验数据，测量精度/精度以及数据处理算法。

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