Partially programmable circuit design

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• 来源
  《IEEE East-West Design Test Symposium》|2014年|1-4|共4页
• 会议地点
• 作者

  Matrosova A.; Ostanin S.; Kirienko I.; Singh V.;

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• 作者单位

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• 关键词

  fault diagnosis; logic design; logic gates; logic testing; table lookup; LUTs; arbitrary gate faults; configurable logic block; gate fault masking; gate poles; logical circuit; look up table; partially programmable circuit design; reserved blocks CLB; stuck-at faults; Boolean functions; Circuit faults; Combinational circuits; Data structures; Logic gates; Multiplexing; Vectors;

  机译：故障诊断;逻辑设计;逻辑门;逻辑测试;查表;查找表;任意门故障;可配置逻辑块;栅极故障屏蔽;栅极极点;逻辑电路;查找表;部分可编程电路设计;保留块CLB;卡住故障处;布尔函数;电路故障;组合电路;数据结构;逻辑门;复用;向量;