首页> 外文会议>Semiconductor Electronics (ICSE), 2008 IEEE International Conference on >Post-thermal annealing effects on the optical, structural and morphological properties of hydrogenated silicon (Si:H) thin films prepared by layer-by-layer (LBL) deposition technique
【24h】

Post-thermal annealing effects on the optical, structural and morphological properties of hydrogenated silicon (Si:H) thin films prepared by layer-by-layer (LBL) deposition technique

机译:后热退火对通过逐层(LBL)沉积技术制备的氢化硅(Si:H)薄膜的光学,结构和形态特性的影响

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