Temperature measurement; Temperature; Creep; Thermal resistance; Semiconductor device reliability; Thermomechanical processes; Bismuth;
机译:无铅富锡锡合金的微观结构表征和蠕变行为:第二部分。大块焊锡和焊锡/铜接头的蠕变行为
机译:焊点尺寸对高温下微尺度无铅焊点蠕变性能的影响
机译:无铅富锡焊料合金的微观结构表征和蠕变行为:第一部分。大块焊料和焊料/铜接头的微观结构表征
机译:通过压痕蠕变测试表征SnAgCu焊料在倒装芯片接头中的蠕变本构行为
机译:球形微压痕测试方法的发展,用于蠕变分析和锡合金的第三蠕变开始
机译:Ni / Sn / Ni微型焊点力学性能的IMC微观结构演变依赖性
机译:用于蠕变分析和焊料合金三级蠕变的球面微压痕试验方法的发展