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【24h】

Triple-probe Atomic Force Microscope: Measuring a carbon nanotube/DNA MIS-FET

机译：三探针原子力显微镜：测量碳纳米管/ DNA错误FET

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We have constructed an advanced electric probing system, which is a triple-probe atomic force microscope (T-AFM). The T-AFM consists of "Nanotweezers" and an AFM with a carbon nanotube probe. Using this system, we fabricated a single-walled carbon nanotubes (SWNTs)/deoxyribonucleic acid (DNA) three-terminal device and measured the current-voltage (I-V) curves of this device. In this three-terminal device, DNA strands were entangled with the SWNT bundle, and behaved as a gate-insulator-layer. This three-terminal device worked as a metal-insulator-semiconductor field effect transistor (MIS-FET) with depletion switching behavior.
机译：我们建造了一种先进的电动探测系统，其是三探针原子力显微镜（T-AFM）。 T-AFM由“纳米纺”和具有碳纳米管探针的AFM组成。使用该系统，我们制造了单壁碳纳米管（SWNT）/脱氧核糖核酸（DNA）三端装置，并测量该装置的电流 - 电压（I-V）曲线。在该三末端器件中，DNA链与SWNT束缠结，并表现为栅极绝缘体层。该三端装置用耗尽切换行为用作金属绝缘体 - 半导体场效应晶体管（MIS-FET）。

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