Swiss Center for Electronics and Microtechnology, CSEM SA, Jaquet-Droz 1, CH-2002 Neuchatel;
Institute for Microtechnology, University of Neuchatel, A-L.Breguet 2, CH-2000 Neuchatel;
optical metrology; triangulation; interferometry; time-of-flight; photon noise limit; linear shift invariant systems; phase measurement;
机译:光学距离成像技术的量子噪声受限距离分辨率
机译:高分辨率调频连续波激光测距,适用于精密距离计量应用
机译:用有限的实验数据将NMR质子距离转换为相应的重原子距离以预测蛋白质结构的方法
机译:克服基于机器学习的光学关键维度计量中的有限标记数据集的方法
机译:带有倾斜测量便携式光学测试系统的高分辨率光学表面计量学。
机译:虚拟距离方法学作为基于电容传感器的索引计量平台的AACMM的验证技术
机译:带有倾斜测量便携式光学测试系统的高分辨率光学表面计量