Department of Physics, Southeast University, Nanjing 210096, China;
Beijing National Laboratory for Condensed Matter Physics, Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences, P. O. Box 603, Beijing 100080, China;
THz-TDS; Ag_2O; Ag; evanescent wave; frequent spectra;
机译:太赫兹时域光谱检测到太赫兹脉冲通过Ag / Ag2O层的传输增强
机译:使用脉冲IR热成像和THZ-TDS测量的无损评估热障涂层厚度劣化:比较研究
机译:高精度THZ-TDS通过自引用传输回声方法
机译:通过THS-TDS检测到AG20-AGLAYER的THZ脉冲传输增强
机译:使用THz干涉法降低薄膜的THz-TDS介电特性时的噪声。
机译:使用THz-TDS和折射率匹配介质测量多孔材料的开孔率
机译:使用脉冲 - 热成像和THZ-TDS成像的分层结构的NDT