Laboratorio de Sistemas Integraveis Escola Politecnica da Universidade de Sao Paulo Av. Prof. Luciano Gualberto, trav. 3 n° 158 CEP 05508-900 - Sao Paulo - Brazil;
Centro Universitario da FEI, Sao Bernardo do Campo - Brazil;
IMEC, Kapeldreef 75, B-3001 Le;
机译:130nm部分耗尽的SOI MOSFET非线性模型,包括扭结效应,用于线性特性研究
机译:使用双栅极MOSFET配置的部分耗尽SOI中的线性扭结噪声抑制
机译:单轴和双轴应变对完全耗尽SOI nMOSFET线性度的影响分析
机译:部分耗尽SOI NMOSFET的线性扭结效应分析
机译:完全耗尽的Δ沟道SOI NMOSFET的实现
机译:多响应部分线性变异系数模型下基因与环境相互作用的综合分析
机译:纳米线生物传感器在亚阈值区域的部分耗尽和完全耗尽模式下的灵敏度分析