Dept. of Electr. Comput. Eng., Illinois Inst. of Technol., Chicago, IL;
机译:辐射和温度影响对用于片上ESD保护的双向SCR器件的影响
机译:用于0.18-μmBCD技术的高压电流栅极控制双向SCR,用于高压ESD保护技术
机译:用于工业级ESD保护的高故障电流双向SCR的设计和优化
机译:新型双向IC ESD保护器件
机译:新型基于硅的可控整流器(SCR)的器件的设计,表征和紧凑模型,用于集成电路中的静电放电(ESD)保护应用。
机译:具有嵌入式PMOSFET的鲁棒和锁定的免疫LVTSCR器件用于28 nm CMOS过程中的ESD保护
机译:双向和高保持电压的SCR基础芯片ESD保护的设计
机译:保护电子爆炸装置(EED)和电子设备免受静电放电(EsD)危害