【24h】

Chemical imaging of InGaAs/InAlAs quantum wells

机译:InGaAs / InAlAs量子阱的化学成像

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摘要

We have applied high resolution chemical imaging in a transmission electron microscope to study compositional variations across InGaAs/InAlAs double quantum well structures. The structures of interest are grown on an InP substrate and consist of two 40 A layers of InCaAs separated by 20 A of InAlAs. For this (InGa)_x(InAl)_1-xAs system, we have been able to obtain compositional information with an accuracy of about 20
机译:我们已经在透射电子显微镜中应用了高分辨率化学成像,以研究整个InGaAs / InAlAs双量子阱结构的组成变化。感兴趣的结构在InP衬底上生长,由两层40 A的InCaAs层和20 A的InAlAs隔开。对于这个(InGa)_x(InAl)_1-xAs系统,我们已经能够获得精度约为20的成分信息

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