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Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.
Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.
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1.
Quantitative high resolution transmission electron microscopy -th role of space charge in blurring images
机译:
定量高分辨率透射电镜-空间电荷在模糊图像中的作用
作者:
A.M.Schwartz
;
J.M.Gibson
;
T.Zheng
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
2.
Quantitative analysis of displacement at 90 deg domain boundaries in BaTiO_3 and PbTiO_3
机译:
BaTiO_3和PbTiO_3在90度晶界边界处的位移定量分析
作者:
Frances M.Ross
;
Roar Kilaas
;
Etienne Snoeck
;
Martin Hytch
;
Alain
;
Thorel
;
Laurent Normand
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
3.
STM study of 3~(1/2) x 3~(1/2)-B reconstruction on Si(111)
机译:
在Si(111)上进行3〜(1/2)x 3〜(1/2)-B重建的STM研究
作者:
M.Umekawa
;
S.Ohara
;
S.Tatsukawa
;
H.Kuriyama
;
S.Matsumoto
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
4.
Surface atomic resolution microscopy of sulfated-zirconia and Fe/Mn promoted sulfated zirconia
机译:
硫酸锆和铁/锰促进的硫酸锆的表面原子分辨显微镜
作者:
M.Benaissa
;
J.G.Santiesteban
;
G.Diaz
;
M.Jose-Yacaman
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
5.
The scattering distribution from semiconductors as a function of angle and energy loss in the electron microscope
机译:
电子显微镜中半导体的散射分布与角度和能量损失的关系
作者:
C.B.Boothroyd
;
R.E.Dunin-Borkowski
;
T.Walther
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
6.
Time-dependent interfacial reaction mechanism in a spinel-forming solid state reaction studied by tem
机译:
TEM研究尖晶石形成固态反应中的时变界面反应机理
作者:
P.Werner
;
H.Sieber
;
R.Hillebr
;
D.Hesse
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
7.
The improtance of the fringing surrounding a tem foil to the quantification of phase contrast at a P-N junction
机译:
包围箔的边缘对定量P-N结处的相衬度的重要性
作者:
R.E.Dunin-borkowski
;
W.O.Saxton
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
8.
Atomic-force microscopy of gold nanocrsytallites on smooth and stepped strontium titanate surfaces
机译:
光滑阶梯状钛酸锶表面上金纳米晶的原子力显微镜观察
作者:
J.D.Hamilton
;
M.R.Papantonakis
;
R.F.Haglund
;
M.Godbole
;
D.H.Lowndes
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
9.
Atomic force microscopy study of stabilized quasi-amorphous carbon in the range of thickness from 5 nm to 300 um m
机译:
稳定厚度为5 nm至300 um m的准非晶碳的原子力显微镜研究
作者:
Fred H.Pollak
;
J.Z.Wan
;
Benjamin F.Dorfman
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
10.
Mismatch and misalignment at interfaces between Ga and Mn_3O_4 studied with hrtem
机译:
用hrtem研究Ga和Mn_3O_4之间界面的不匹配和错位
作者:
B.J.Kooi
;
H.B.Groen
;
J.Th.M.De Hosson
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
11.
Quantitative high resolution electron microscopy of grain boundaries
机译:
晶界的定量高分辨率电子显微镜
作者:
Geoffrey H.Campbell
;
Wayne E.King
;
Dov Cohen
;
C.Barry Carter
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
12.
Grain boundary dislocation structure and motion in an aluminum sigma =3 011 bicrystal
机译:
铝sigma = 3 011双晶中的晶界位错结构和运动
作者:
D.L.Medlin
;
S.M.Foiles
;
C.B.Carter
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
13.
Kinetic investigations of the initial oxidation stage of copper by in-situ UHV-tem
机译:
原位UHV-tem对铜初始氧化阶段的动力学研究
作者:
J.C.Yang
;
M.Yeadon
;
B.Kolasa
;
D.Olynick
;
J.M.Gibson
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
14.
Hrtem studies of dislocations and interfaces in TiAl
机译:
TiAl中位错和界面的系统研究
作者:
M.J.Mills
;
J.M.K.Wiezorek
;
H.L.Fraser
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
15.
In-situ high resolution transmission electron microscopy of solid-liquid interface of alumina
机译:
氧化铝固液界面原位高分辨率透射电镜
作者:
Katsuhiro Sasaki
;
Hiroyasu Saka
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
16.
Evolution of morphology during etching of Si
机译:
硅腐蚀过程中形貌的演变
作者:
Ellen D.Williams
;
Elain S.Fu
;
Bin Li
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
17.
Fracture surface topography of energetic materials using atomic force microscopy
机译:
使用原子力显微镜的高能材料断裂表面形貌
作者:
M.Y.D.Lanzerotti
;
L.V.Meisel
;
M.A.Johnson
;
A.Wolfe
;
D.J.Thomson
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
18.
Detemination of the three-dimensional atomic structure at internal interfaces by electron energy loss spectroscopy
机译:
用电子能量损失光谱法测定内部界面的三维原子结构
作者:
N.D.Browning
;
D.J.Wallis
;
S.J.Pennycook
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
19.
Electron microscopy studies of the high temperature oxidation behaivor of NiAl
机译:
NiAl高温氧化行为的电子显微镜研究
作者:
J.C.Yang
;
E.Schumann
;
I.Levin
;
H.Muellejans
;
M.Ruhle
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
20.
Ferroelectric domain boundaries induced by interface mismatch dislocations in BaTiO_3/LaAlO_3
机译:
BaTiO_3 / LaAlO_3中界面失配位错引起的铁电畴边界
作者:
Z.L.Wang
;
Z.R.Dai
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
21.
Atomic structure of 66 deg 110 asymmetric tilt grain boundary in aluminum
机译:
铝中66度110不对称倾斜晶界的原子结构
作者:
M.Shamsuzzoha
;
P.A.Deymier
;
David J.Smith
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
22.
Quantitative eels profiling of planar faults in CaTiO_3 perovskite approaching atomic resolution: a comparison with z-contrast imaging
机译:
接近原子分辨率的CaTiO_3钙钛矿中平面断层的定量鳗形图:与z对比成像的比较
作者:
Hui Gu
;
Miran Ceh
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
23.
STM study of initial growth of titanium silicide on Si(111)
机译:
硅化钛在Si(111)上初始生长的STM研究
作者:
H.Kuriyama
;
S.OHara
;
K.Ezoe
;
T.Yamamoto
;
S.Tatsukawa
;
M.Umekawa S.Matsumoto
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
24.
STM study of a defect-rrelated Si(001)-c(4x4) surface
机译:
缺陷相关的Si(001)-c(4x4)表面的STM研究
作者:
Masamichi Yoshimura
;
Kazuyuki Ueda
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
25.
The effect of strain relaxation mechanisms on the electrical properties of epitaxial CaF_2/Si(111) heterostructures
机译:
应变松弛机制对外延CaF_2 / Si(111)异质结构电性能的影响
作者:
L.J.Schowalter
;
B.M.Kim
;
T.G.Thundat
;
Carl A.Ventrice
;
V.P.LaBella
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
26.
Stressinduced structural changes of interphase doundaries and mechanical twinsin two-phase gamma -titanium aluminides
机译:
应力诱导两相γ-钛铝化物的相间边界和机械孪晶的结构变化
作者:
F.Appel
;
R.Wagner
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
27.
Atomic structure of interfaces in mazed Au bicrystals
机译:
Au双晶晶体中界面的原子结构
作者:
C.J.D.Hetherington
;
U.Dahmen
;
J.-M.Penisson
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
28.
Atomic-resolution electron microscopy of TiB_2 precipitates in an industrial TiAl alloy
机译:
工业TiAl合金中TiB_2沉淀物的原子分辨电子显微镜
作者:
B.J.Inkson
;
G.Mobus
;
M.Ruhle
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
29.
Analysis of interface structures by quantitative high-resolution transmission electron microscopy
机译:
定量高分辨率透射电子显微镜分析界面结构
作者:
O.Kienzle
;
M.Exner
;
F.Ernst
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
30.
Application of spatially resolved eels on atomic structure determination of diamond grain boundary
机译:
空间分辨鳗在金刚石晶界原子结构确定中的应用
作者:
H.Ichinose
;
Y.Zhang
;
Y.Ishida
;
K.Ito
;
M.Nakanose
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
31.
Characterization of heterointerfaces in thin-film transistors by cross-sectional transmission electron microscopy
机译:
截面透射电子显微镜表征薄膜晶体管中的异质界面
作者:
K.Kuroda
;
S.Tsuji
;
Y.Hayashi
;
H.Saka
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
32.
Chemical imaging of InGaAs/InAlAs quantum wells
机译:
InGaAs / InAlAs量子阱的化学成像
作者:
G.Mountjoy
;
P.A.Crozier
;
P.L.Fejes
;
R.K.Tsui
;
G.D.Kramer
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
33.
Cross sectional AFM of oxidized porous silicon
机译:
氧化多孔硅的截面AFM
作者:
Weijun Ye
;
Jordan Poler
;
B.Drozd
;
M.A.Hasan
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
34.
Creation of nanocrystals via a tip-induced solid-solid transformation
机译:
通过尖端诱导的固-固转变产生纳米晶体
作者:
Jian Zhang
;
Jie Liu
;
Jinlin Huang
;
Philip Kim
;
Charles M.Lieber
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
35.
Determination of atomic structure at surfaces and interfaces by high-resolution stem
机译:
用高分辨率杆测定表面和界面的原子结构
作者:
S.J.Penncook
;
P.D.Nellist
;
M.F.Chisholm
;
N.D.Browning
;
D.J.Wallis
;
E.C.Dickey
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
|
1996年
36.
Metal-ZnO interfaces studies by high resolution transmission electron microscopy
机译:
金属-ZnO界面的高分辨率透射电子显微镜研究
作者:
J.Th.M.De Hosson
;
W.P.Vellinga
;
H.B.Groen
;
B.J.Kooi
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
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1996年
37.
A novel stem-based mass spectroscopic technique: applications to catalytic materials
机译:
一种新的基于茎的质谱技术:在催化材料中的应用
作者:
J.C.Yang
;
A.Singhal
;
S.Bradley
;
J.M.Gibson
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
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1996年
38.
A combined-techniques approach to elucidating crystalline interface atomic structure
机译:
阐明晶体界面原子结构的组合技术方法
作者:
E.C.Dickey
;
V.P.Dravid
;
S.J.Pennycook
;
P.D.Nellist
;
D.J.Wallis
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
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1996年
39.
Photoexcited carrier effect on imaging of orgnaic molecules on Si(100)2x1 surfaces
机译:
光激发载流子对Si(100)2x1表面有机分子成像的影响
作者:
Y.Maeda
;
T.Matsumoto
;
T.Kawai
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
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1996年
40.
Imaging the dimers in Si(111) 7x7
机译:
成像Si(111)7x7中的二聚体
作者:
L.D.Marks
;
E.Bengu
;
R.Plass
;
T.Ichimiya
;
P.M.Ajayan
;
S.Iijima
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
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1996年
41.
Grain boundaries in diamond films on Si(001)
机译:
Si(001)上金刚石薄膜的晶界
作者:
D.Wittorf
;
C.L.Jia
;
W.Jager
;
B.Grushko
;
K.Urban
;
X.Jiang
;
M.Paul
;
C.-P.Klages
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
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1996年
42.
Equilibrium configuration of Bi-doped ZnO grain boundaries: intergranular amorphous films
机译:
双掺杂ZnO晶界的平衡构型:晶间非晶膜
作者:
Haifeng Wang
;
Yet-Ming Chiang
会议名称:
《Symposium on Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces held December 3-5, 1996, Boston; Massachusetts,U.S.A.》
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1996年
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