• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文会议>Symposium on Spatially Resolved Characterization of Local Phenomena in Materials and Nanostructures Dec 2-6, 2002 Boston, Massachusetts, U.S.A. >Triple-probe Atomic Force Microscope: Measuring a carbon nanotube/DNA MIS-FET
【24h】

Triple-probe Atomic Force Microscope: Measuring a carbon nanotube/DNA MIS-FET

机译：三探针原子力显微镜：测量碳纳米管/ DNA MIS-FET

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

We have constructed an advanced electric probing system, which is a triple-probe atomic force microscope (T-AFM). The T-AFM consists of "Nanotweezers" and an AFM with a carbon nanotube probe. Using this system, we fabricated a single-walled carbon nanotubes (SWNTs)/deoxyribonucleic acid (DNA) three-terminal device and measured the current-voltage (I-V) curves of this device. In this three-terminal device, DNA strands were entangled with the SWNT bundle, and behaved as a gate-insulator-layer. This three-terminal device worked as a metal-insulator-semiconductor field effect transistor (MIS-FET) with depletion switching behavior.
机译：我们已经构建了一套先进的电探测系统，它是三探针原子力显微镜（T-AFM）。 T-AFM由“ Nanotweezers”和带有碳纳米管探针的AFM组成。使用该系统，我们制造了单壁碳纳米管（SWNT）/脱氧核糖核酸（DNA）三端设备，并测量了该设备的电流-电压（I-V）曲线。在这种三端设备中，DNA链与SWNT束缠结在一起，并充当门绝缘层。该三端子器件用作具有耗尽开关行为的金属绝缘体半导体场效应晶体管（MIS-FET）。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号