声明
摘要
第1章 绪论
1.2 SOI MOSFET简介
1.3 全耗尽SOI MOSFET器件
1.4 MOSFET源/漏寄生电阻的研究意义
1.5 MOSFET源/漏电阻的研究现状
1.6 各章节内容安排
第2章 MOSFET源/漏寄生电阻的研究方法
2.1 提取法
2.1.1 沟道电阻法
2.1.2 其它提取法
2.2 建模法
2.2.2 解析法
2.2.3 半解析法
2.3 本章小结
第3章 全耗尽SOI MOSFET源/漏寄生电阻的半解析模型
3.2 Ⅰ区电阻的求解
3.3 Ⅱ区和Ⅲ区边值问题的求解
3.3.1 Ⅱ区和Ⅲ区电势问题的偏微分方程
3.3.2 Ⅱ区的边界条件及边值问题的解
3.3.3 Ⅲ区的边值问题及其解
3.4 源漏区电阻的分区求解
3.4.2 Ⅲ区电阻的求解
3.5 本章小结
第4章 全耗尽SOI MOSFET半解析模型的验证分析
4.1 全耗尽SOI MOSFET二维模型电势分布的验证与分析
4.1.1 Ⅱ区二维电势的验证分析
4.1.2 Ⅲ区二维电势的验证分析
4.2 全耗尽SOI MOSFET源/漏寄生电阻的验证分析
4.3 硅化物对全耗尽SOI MOSFET器件涮漏寄生电阻的影响
4.4 本章小结
第5章 总结与展望
5.1 总结
5.2 展望
参考文献
致谢
攻读硕士学位期间发表的论文
参与的科研项目
安徽大学;