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Cr/V掺杂拓扑绝缘体的微观结构及其对带隙和磁性的影响

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目录

1 绪论

1.1 量子反常霍尔效应的研究背景

1.2 拓扑绝缘体

1.3 磁掺杂拓扑绝缘体与量子反常霍尔效应

1.4 本论文的主要内容:

2 理论基础和软件介绍

2.1 第一性原理

2.2 绝热近似和单电子近似

2.3 密度泛函理论

2.4 交换关联泛函

2.5 赝势

2.6 相关的计算软件

3 Cr/V掺杂Bi2Se3、Bi2Te3、Sb2Te3拓扑绝缘体薄膜磁性和电子结构的研究

3.1 引言

3.2 计算细节

3.3结果与讨论

3.4 结论

4 Cr/V分别掺杂均匀和非均匀(BixSb1-x)2Te3薄膜的磁性和电子结构的研究

4.1 引言

4.2 计算细节

4.3 结果与讨论

4.4 结论

5 全文总结

参考文献

附录

在学期间研究成果

致谢

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著录项

  • 作者

    常茂枝;

  • 作者单位

    山西师范大学;

  • 授予单位 山西师范大学;
  • 学科 材料科学与工程;材料物理与化学
  • 授予学位 硕士
  • 导师姓名 齐世飞;
  • 年度 2020
  • 页码
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

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