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1.多层膜光栅的理论分析,制备和检测;2.TiN/TaN多层膜的界面粗糙与硬度的研究

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目录

前言

致谢

第一章.多层膜光栅的理论分析,制各和检测

§1-1引言

§1-2软X射线光学多层膜的研究进展

§1-3多层膜光栅及其衍射的理论推导

1-3.1多层膜振幅光栅的理论分析

1-3.2多层膜闪耀光栅的理论分析

§1-4多层膜光栅的制备与质量

§1-5闪耀光栅的制备和原子力显微镜检测

§1-6多层膜闪耀光栅的制备和原子力显微镜检测

§1-7应用于软X射线波段的多层膜-多层膜闪耀光栅单色器的设计

参考文献

第二章.TiN/TaN多层膜的结构,表面粗糙化与力学性能研究

§2-1.引言

§2-2.粗糙表面及界面的理论表征

2-2.1粗糙度表述粗糙表面的局限性

2-2.2薄膜粗糙表面的简单分形性质

2-2.3粗糙表面的多重分形性质

§2-3.薄膜粗糙表面的多重分形计算及多重分形谱的性质

§2-4.TiN/TaN多层膜的制备

§2-5.TiN/TaN多层膜的X射线衍射测量

§2-6.TiN/TaN多层膜的AFM表面形貌测量

§2-7.TiN/TaN多层膜的表面粗糙和多重分形分析

§2-8.TiN/TaN多层膜的微刻痕硬度测量

§2-9.TiN/TaN多层膜的微刻痕硬度与界面粗糙度的关系

参考文献

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摘要

该论文包括两个部分,分别是软X射线多层膜光栅的理论分析与多层膜闪耀光栅的制备和AFM检测,和TiN/TaN多层膜的表面/界面粗糙分析以及与其硬度的关系.

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