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【24h】

Investigation of reliability in gallium nitride high electron mobility transistors using equivalent circuit models for use in high power, high frequency microwave amplifiers

机译:使用等效电路模型在高功率,高频微波放大器中使用等效电路模型对氮化镓高电子迁移率晶体管的可靠性研究

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著录项

  • 作者

    Huebschman, Benjamin David.;

  • 作者单位

    University of Maryland College Park.;

  • 授予单位 University of Maryland College Park.;
  • 学科
  • 学位 Ph.D.
  • 年度 2010
  • 页码 197 p.
  • 总页数 197
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 AAI3443460;
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