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智能卡抗干扰测试通过标准探讨

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摘要

在进行智能卡抗干扰测试时,人们会提出疑问,通过何种测试标准才能确保智能卡产品不出现数据破坏质量风险。本文就智能卡抗干扰测试的通过标准进行探讨。

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来源
《中国集成电路》 |2022年第5期|87-89|共3页
作者
杨利华;
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作者单位

北京中电华大电子设计有限责任公司;

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正文语种 chi
中图分类计算技术、计算机技术;
关键词
智能卡; 数据破坏; 测试标准;

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