粉末压片—X射线荧光光谱法测定地球化学样品中Zr,Ti,SiO2成分

王浩

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粉末压片—X射线荧光光谱法测定地球化学样品中Zr,Ti,SiO2成分

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X荧光光谱法以其高灵敏度、高精度、较为便捷、快速和经济的测定和分析手段在对地球化学元素分析的各类分析方法中首屈一指,尤其在1:50000和1:200000区域地球化学调查工作中,该法以其对环境危害小、检测时间短、低成本等优势在各种检测分析方法中让人青睐,在各检验检测机构中起到了中流砥柱的作用.本法选取不同质量范围的标准物质,进行精密度实验和再现性实验,以期达到检验仪器稳定性能和检验方法成熟的目的.

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来源
《中国金属通报》 |2022年第9期|174-176|共3页
作者
王浩;
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作者单位

甘肃省有色金属地质勘查局兰州矿产勘查院中心实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类分析化学;
关键词
粉末压片; X射线荧光光谱法; ZR; TI; SiO2成分;

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