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迷走神经刺激术后电路故障与维护分析(附六例报道)

         

摘要

目的总结分析迷走神经刺激术(VNS)舌电路故障的常见类型、原因以及处理方法。方法上海交通大学医学院附属仁济医院功能神经科自2011年1月至2014年10月开展的97例VNS手术中3例出现术后电路故障,并同期接诊外院VNS术后电路故障患者3例。对该6例患者通过设备系统诊断、影像学检查及手术探查,逐步寻找到故障原因,并采取相应措施解决。结果6例患者中,2例故障原因为脉冲发生器与导线连接处松动,重新连接后电极阻抗恢复至正常范围;4例故障原因为导线断裂,其中3例在显微镜下将螺旋电极从迷走神经主干上剥离并重新放置新电极,1例将导线在螺旋电极连接处剪断,将脉冲发生器取出。6例患者术后均未出现声音嘶哑、呼吸困难、心律减慢、皮下血肿和感染等并发症。5例患者随访仪器工作正常,其中4例癫痫发作有明显好转,1例症状仍无明显改善。讨论高电极阻抗是VNS术后电路故障的主要表现,常见原因为电极导线断裂或导线与脉冲发生器连接处断联。手术探查仍然是寻找电路故障原因并加以解决的主要方法。

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