针对ASIC中记忆部件的易测试性设计技术

著录项

• 来源
  《计算机工程与科学》 |2002年第4期|68-70|共3页
• 作者

  张民选; 张承义; 王永文; 高军;

  展开▼
• 作者单位

  国防科技大学计算机学院;

  湖南;

  长沙;

  410073;

  国防科技大学计算机学院;

  湖南;

  长沙;

  410073;

  国防科技大学计算机学院;

  湖南;

  长沙;

  410073;

  国防科技大学计算机学院;

  湖南;

  长沙;

  410073;

  展开▼
• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 TN492.07;
• 关键词

  专用大规模集成电路; 易测试性设计; 故障覆盖率;