精密电子设备的减振设计与试验研究

车毕琴; 郭中泽; 赖盛景; 李火生

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精密电子设备的减振设计与试验研究

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某重大装备搭载的精密电子设备在考核性振动试验中出现信号异常,经检查和分析认为,该故障是由于过大的加速度响应导致精密电子设备损伤所致。研究分析了设备在200 Hz后响应过大的特点,采用体积小且承载能力强的减振器方案,改进后的产品通过了振动试验验证。试验结果表明,响应大幅度降低,精密电子设备工作正常。该设计为类似设计提供了参考,具有较强的工程应用价值。

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来源
《机械设计》 |2015年第9期|101-104|共4页
作者
车毕琴; 郭中泽; 赖盛景; 李火生;
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作者单位

中国工程物理研究院总体工程研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类联接及联接零件;
关键词
精密电子设备; 减振器; 减振设计; 试验研究;

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