首页> 中文期刊> 《微电子学》 >高均匀和无缺陷的外延淀积工艺

高均匀和无缺陷的外延淀积工艺

         

摘要

<正> 对于迅速发展中的、应用硅外延层的半导体器件和集成电路来说,制得厚度均匀与电阻率可控、表面质量良好的外延层是很重要的。淀积工艺的若干改进促使实现这种均匀性和表面质量。主要包括反应管的形状和合理的结构设计。用于硅汽相淀积的反应器的设计基本上有三种:即立式、桶式、和卧式。立式反应器采用转动或不转动的台式基座,由反应室外部加热。反应气体可以由反应室的顶部或底部引入反应室。这两种情况中,当气体接近基座和在不同的垂直面碰撞衬底时产生骚动。桶式反应器一次可淀积大量的片子。片子放置在反应室外部加热的旋转的圆筒基座上。在卧式结构中,片子

著录项

  • 来源
    《微电子学》 |1973年第2期|8-15|共8页
  • 作者

    李添臣;

  • 作者单位
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号